NanoScan2s狹縫掃描光束分析儀

掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測(cè)量技術(shù)，通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點(diǎn)光電探測(cè)器測(cè)量強(qiáng)度，再通過掃描狹縫 / 小孔的位置，復(fù)原整個(gè)光斑的分布。

掃描式光束分析儀的優(yōu)點(diǎn) : 

取樣尺度可以到微米量級(jí)，遠(yuǎn)小于 CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大；

• 采用單點(diǎn)探測(cè)器，適應(yīng)紫外 ~ 中遠(yuǎn)紅外寬范圍波段；

單點(diǎn)探測(cè)器具備很高的動(dòng)態(tài)范圍，一個(gè)探頭可同時(shí)適應(yīng)弱光和強(qiáng)光分析。

掃描式光束分析儀的缺點(diǎn) :  

• 多次掃描重構(gòu)光束分布，不適合輸出不穩(wěn)定的激光；

• 不適合非典型分布的激光，近場(chǎng)光斑有熱斑、有條紋等的狀況。

掃描式光束分析儀與相機(jī)式光束分析儀是互補(bǔ)關(guān)系而非替代關(guān)系；在很多應(yīng)用，如小光斑測(cè)量（焦點(diǎn)測(cè)量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢(shì)。

特點(diǎn)和功能

·可測(cè)量連續(xù)激光以及大于 1kHz 重頻的脈沖激光·取樣間隔可以調(diào)節(jié)小到 5.7nm，使其能夠極其精確地測(cè)量非常小的光斑，

·可顯示 2D/3D 光斑形貌

·掃描速度可調(diào)諧

·16 位數(shù)字化信號(hào)采集，35dB 高動(dòng)態(tài)范圍，20Hz最刷新頻率·支持用戶進(jìn)行二次開發(fā)，便于集成

·探頭可添加功率計(jì)選項(xiàng)

硅、鍺和熱釋電探測(cè)器可選，測(cè)量范圍可覆蓋很寬的光譜范圍和功率級(jí)別

·不加衰減就可以測(cè)量較高功率或焦點(diǎn)處光斑·所有的 NanoScan 的校準(zhǔn)都可以朔源 NIST 標(biāo)準(zhǔn)以確保最終的精度·符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/DIN11146及IS013694。(1989~1996 年P(guān)hoton 公司主持了 ISO/DIN 委員會(huì)的工作，制訂出了ISO/DIN11146 標(biāo)準(zhǔn))

軟件功能 :

NanoScan 提供 Standard 與 Professional 兩種功能版本